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檢測(cè)項(xiàng):粒子碰撞噪聲檢測(cè)(PIND) 檢測(cè)樣品:微電子器件 標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-1580B-2014GJB4027B-2021 電子、電磁和機(jī)電元器件破壞性物理分析 軍用電子元器件破壞性物理分析方法
檢測(cè)機(jī)構(gòu):國(guó)家電子電器產(chǎn)品檢測(cè)中心 更多相關(guān)信息>>
檢測(cè)項(xiàng):PIND 檢測(cè)樣品: 標(biāo)準(zhǔn):
檢測(cè)項(xiàng):PIND 檢測(cè)樣品: 標(biāo)準(zhǔn):
機(jī)構(gòu)所在地:遼寧省沈陽(yáng)市
檢測(cè)項(xiàng):聲學(xué)掃描顯微鏡檢查 檢測(cè)樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):GJB4027A-2006《 軍用電子元器件破壞物理分析方法》
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測(cè)項(xiàng):粒子碰撞噪聲檢測(cè)(PIND) 檢測(cè)樣品:電磁繼電器 標(biāo)準(zhǔn):GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》
檢測(cè)項(xiàng):粒子碰撞噪聲檢測(cè)(PIND) 檢測(cè)樣品:石英晶體元件 標(biāo)準(zhǔn):GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》
檢測(cè)項(xiàng):粒子碰撞噪聲檢測(cè)(PIND) 檢測(cè)樣品:石英晶體元件 標(biāo)準(zhǔn):GJB 4027A-2006 《軍用電子元器件破壞性物理分析方法 》
機(jī)構(gòu)所在地:四川省綿陽(yáng)市
機(jī)構(gòu)所在地:湖北省孝感市
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測(cè)項(xiàng):粒子碰撞噪聲檢測(cè)(PIND) 檢測(cè)樣品:集成電路 篩選 標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005
機(jī)構(gòu)所在地:甘肅省蘭州市
機(jī)構(gòu)所在地:河南省洛陽(yáng)市