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檢測(cè)項(xiàng)：導(dǎo)通電阻RON 檢測(cè)樣品：模擬開關(guān) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測(cè)試方法的基本原理 GB/T 14028-1992
檢測(cè)項(xiàng)：開環(huán)增益AVO 檢測(cè)樣品：運(yùn)算 放大器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路運(yùn)算放大器測(cè)試方法基本原理 SJ/T10738-1996
檢測(cè)項(xiàng)：最低頻率fmin 檢測(cè)樣品：脈寬調(diào)制器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路開關(guān)電源脈寬調(diào)制器測(cè)試方法 QJ2660-1994
機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>
檢測(cè)項(xiàng)：鄰苯二甲酸酯類物質(zhì) (PAEs) 檢測(cè)樣品：電子電氣產(chǎn)品、電子元器件及原材料 標(biāo)準(zhǔn)：超聲萃取 US EPA 3550C:2007 索氏提取 US EPA 3540C:1996 氣相色譜/質(zhì)譜法分析半揮發(fā)性有機(jī)化合物 US EPA 8270D:2007 電子電氣產(chǎn)品材料中22種鄰苯二甲酸酯含量檢測(cè) SOP-CH-018
機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>
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