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檢測項:開關(guān)通斷比及開關(guān)速度 檢測樣品: 標準:
檢測項:漏源通態(tài)電壓 檢測樣品:場效應(yīng)管 標準:《半導(dǎo)體器件 分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管》GB/T4586-1994
機構(gòu)所在地:江蘇省揚州市
檢測項:殼體試驗 檢測樣品:工業(yè)閥門 標準:工業(yè)閥門 壓力試驗 GB/T 13927-2008
機構(gòu)所在地:福建省廈門市
檢測項:導(dǎo)通態(tài)漏電流 IDS(on ) 檢測樣品:模擬集成電路 標準:GB/T 14030-1992 《半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理》
檢測項:饋通誤差EF 檢測樣品:晶體三極管 標準:GB/T4587-1994 《半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管》
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:中心頻率誤差 檢測樣品:功率放大器 標準:GJB3258-1998通信干擾功率放大器通用規(guī)范
檢測項:靜態(tài)分辨力帶寬 檢測樣品:功率放大器 標準:GJB3258-1998通信干擾功率放大器通用規(guī)范
檢測項:噪聲邊帶 檢測樣品:功率放大器 標準:GJB3258-1998通信干擾功率放大器通用規(guī)范
機構(gòu)所在地:河南省鄭州市
檢測項:靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻rDS 檢測樣品:晶體振蕩器 標準:《晶體振蕩器總規(guī)范》GJB 1648-1993
機構(gòu)所在地:貴州省貴陽市
檢測項:導(dǎo)通態(tài)漏電流IDS(on) 檢測樣品:脈寬調(diào)制器 標準:半導(dǎo)體集成電路開關(guān)電源脈寬調(diào)制器測試方法 QJ2660-1994
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:密度 檢測樣品:紡織品 標準:機織物密度的測定 GB/T 4668-1995
檢測項:透氣性 檢測樣品:紡織品 標準:織物透氣性的測定 GB/T 5453-1997
檢測項:防鉆絨性 檢測樣品:紡織品 標準:織物透氣率的試驗方法 ASTM D737-04(2008)e2
機構(gòu)所在地:浙江省杭州市