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防沖擊眼護(hù)具檢驗(yàn)規(guī)則 序號(hào) 檢驗(yàn)項(xiàng)目 檢驗(yàn)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)及條款 檢驗(yàn)...查看詳情>>
防沖擊眼護(hù)具檢驗(yàn)規(guī)則
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序號(hào) |
檢驗(yàn)項(xiàng)目 |
檢驗(yàn)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)及條款 |
檢驗(yàn)方法 |
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1 |
可見(jiàn)光透射比 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第5.6.3 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第6.1.3 |
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2 |
抗沖擊性能 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第5.7 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第6.2 |
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3 |
耐熱性能 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第5.8 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第6.3 |
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4 |
有機(jī)鏡片表面 耐磨性能 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第5.10 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第6.5 |
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5 |
防高速粒子 沖擊性能 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第5.11 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第6.6 |
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6 |
化學(xué)霧滴防護(hù)性能 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第5.12 |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第6.8 |
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7 |
標(biāo)識(shí) |
GB 14866-2006個(gè)人用眼護(hù)具技術(shù)要求 第7.2 |
檢查 |
收起百科↑ 最近更新:2018年12月10日
檢測(cè)項(xiàng):粒子碰撞噪聲檢測(cè) 檢測(cè)樣品:固定電阻器 標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005 中方法1015A
檢測(cè)項(xiàng):粒子碰撞噪聲檢測(cè) 檢測(cè)樣品:固定電阻器 標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548A-96中方法2020A
機(jī)構(gòu)所在地:陜西省西安市
檢測(cè)項(xiàng):顆粒碰撞噪聲檢測(cè) 檢測(cè)樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):GJB548B-2005《 微電子器件試驗(yàn)方法和程序》
檢測(cè)項(xiàng):顆粒碰撞噪聲檢測(cè) 檢測(cè)樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):GJB128A-1997 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測(cè)項(xiàng):粒子碰撞噪聲檢測(cè) 檢測(cè)樣品:微電子器件 標(biāo)準(zhǔn):《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》GJB548B-2005
檢測(cè)項(xiàng):微粒碰撞噪聲檢測(cè) 檢測(cè)樣品:半導(dǎo)體分立器件 標(biāo)準(zhǔn):《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》GJB128A-1997
檢測(cè)項(xiàng):粒子碰撞噪聲檢測(cè) 檢測(cè)樣品:半導(dǎo)體分立器件 標(biāo)準(zhǔn):《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》GJB128A-1997
機(jī)構(gòu)所在地:貴州省貴陽(yáng)市
檢測(cè)項(xiàng):硅含量 檢測(cè)樣品:金屬及合金 標(biāo)準(zhǔn):鋼鐵 酸溶硅和全硅含量的測(cè)定 還原型硅鉬酸鹽分光光度法 GB/T 223.5-2008
機(jī)構(gòu)所在地:天津市
機(jī)構(gòu)所在地:河北省石家莊市
機(jī)構(gòu)所在地:吉林省長(zhǎng)春市
檢測(cè)項(xiàng):尾部標(biāo)志板 檢測(cè)樣品:汽車 標(biāo)準(zhǔn):《汽車和掛車后下部防護(hù)要求》GB 11567.2-2001
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省佛山市
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測(cè)項(xiàng):粒子碰撞噪聲檢測(cè) 檢測(cè)樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548B-2005 方法2020.1
檢測(cè)項(xiàng):粒子碰撞噪聲檢測(cè) 檢測(cè)樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548A-1996 方法2020A
機(jī)構(gòu)所在地:江蘇省無(wú)錫市
檢測(cè)項(xiàng):角度 檢測(cè)樣品:插座分?jǐn)嗳萘亢驼2僮髟囼?yàn)機(jī) 標(biāo)準(zhǔn):碰撞試驗(yàn)機(jī)檢測(cè)規(guī)范
檢測(cè)項(xiàng):角度 檢測(cè)樣品:碰撞試驗(yàn)機(jī) 標(biāo)準(zhǔn):電纜燃燒試驗(yàn)裝置檢測(cè)規(guī)范
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省廣州市