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歐司朗（中國）照明有限公司檢測實驗室

檢測項：5.5 待機功耗 檢測樣品： 標準：

機構(gòu)所在地：廣東省佛山市 更多相關(guān)信息>>

中國質(zhì)量認證中心華東實驗室

檢測項：待機功耗 檢測樣品： 標準：

檢測項：關(guān)閉狀態(tài)下的功耗 檢測樣品：微型計算機 標準：微型計算機能效限定值及能效等級 GB 28380-2012

檢測項：空閑狀態(tài)功耗 檢測樣品：服務器 標準：服務器節(jié)能認證技術(shù)規(guī)范 CQC 3135-2011

機構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

聯(lián)想（北京）有限公司可靠性實驗室

檢測項：空閑模式的功耗(W) 檢測樣品： 標準：

檢測項：睡眠模式的功耗(W) 檢測樣品： 標準：

檢測項：關(guān)機模式的功耗(W) 檢測樣品： 標準：GB 28380-2012《微型計算機能效限定值及能效等級》

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

深圳市華測檢測技術(shù)股份有限公司

檢測項：功耗測量 檢測樣品：家用電器的待機功耗測量 標準：家用電器 備用電源的測量 IEC 62301: 2005 EN 62301:2005 AS/NZS 62301：2005

檢測項：功耗測量 檢測樣品：外置電源能源消耗和性能測試 標準：外置電源能源消耗和性能測試 AS/NZS 4665.1:2005+A1:2009

檢測項：功耗 檢測樣品：信息技術(shù)設備的功率消耗 標準：信息技術(shù)設備的功率消耗 測量方法 IEC 62018:2003 EN62018:2003

機構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

華為技術(shù)有限公司可靠性實驗室

檢測項：功耗、能效測試 檢測樣品：終端類電子產(chǎn)品(能效) 標準：家庭和辦公電子設備 - 低功耗的測試方法 EN 50564:2011

檢測項：激光功率測試 檢測樣品：激光產(chǎn)品 (安全) 標準：IEC/EN 62018: 2003 信息技術(shù)設備的功耗測試方法

檢測項：產(chǎn)品能效 檢測樣品：信息技術(shù)設備、通信設備(能效) 標準：家用電子設備 - 待機功耗的測試 IEC 62301:2011

機構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

信華科技（深圳）有限公司

檢測項：待機功耗 檢測樣品：家用電器(能效) 標準：家用電器的待機功耗測量IEC 62301:2005 IEC 62301:2011

檢測項：功耗 檢測樣品：音視頻電子設備 (能效) 標準：音視頻和相關(guān)設備功耗的測量方法IEC62087:2008

檢測項：待機功耗 檢測樣品：計算機顯示器（能源之星） 標準：家用電器的待機功耗測量 IEC 62301:2005 IEC 62301:2011

機構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

深圳出入境檢驗檢疫局工業(yè)品檢測技術(shù)中心

檢測項：待機功耗和關(guān)機功耗限定值 檢測樣品：電磁灶 標準：家用電磁灶能效限定值及能源效率等級 GB 21456-2008

檢測項：關(guān)閉狀態(tài)功耗 檢測樣品：計算機顯示器 標準：計算機顯示器能效限定值及能效等級 GB 21520-2008

檢測項：睡眠狀態(tài)功耗 檢測樣品：計算機顯示器 標準：計算機顯示器能效限定值及能效等級 GB 21520-2008

機構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

遼寧省電子信息產(chǎn)品監(jiān)督檢驗院（遼寧省信息安全與軟件測評認證中心）/遼寧北方實驗室有限公司

檢測項：非正常關(guān)機 檢測樣品：入侵檢測系統(tǒng)（IDS） 標準：GB/T 20275－2006信息安全技術(shù) 入侵檢測系統(tǒng)技術(shù)要求和測試評價方法

檢測項：數(shù)據(jù)探測 檢測樣品：入侵檢測系統(tǒng)（IDS） 標準：GB/T 20275－2006信息安全技術(shù) 入侵檢測系統(tǒng)技術(shù)要求和測試評價方法

機構(gòu)所在地：遼寧省沈陽市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團公司第二十七研究所計量檢測中心

檢測項：消耗電流ID 檢測樣品：半導體 集成電路TTL電路 標準：半導體集成電路TTL電路測試方法的基本原理SJ/T10735-1996

檢測項：輸出電壓VO 檢測樣品：三端穩(wěn)壓電源（電壓調(diào)整器） 標準：半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法的基本原理GB/T4377-1996

檢測項：功耗和功率 檢測樣品：微波器件 標準：GJB2650-1996微波元器件性能測試方法

機構(gòu)所在地：河南省鄭州市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團公司第十三研究所檢測中心

檢測項：靜態(tài)電流ID 檢測樣品：半導體集成電路 （數(shù)字集成電路） 標準：GB/T 17574-1998 半導體器件 集成電路 第2部分：數(shù)字集成電路 第Ⅳ篇

檢測項：漏極電流ID 檢測樣品：場效應晶體管 標準：1、GB/T 4586-1994 半導體器件第8部分：場效應晶體管 2、GB/T 20516-2006 半導體器件 分立器件 第4部分：微波器件

檢測項：靜態(tài)電流ID 檢測樣品：半導體集成電路（穩(wěn)壓器） 標準：1、GB/T 4589.1-2006 半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 2、GB/T 4377-1996 半導體集成電路電壓調(diào)整器測試方法基本原理

機構(gòu)所在地：河北省石家莊市 更多相關(guān)信息>>