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機構(gòu)所在地:山東省濟南市
檢測項:粒子碰撞噪聲檢測試驗 檢測樣品:電子元器件 標準:電子及電氣元件試驗方法 GJB 360A-1996 方法 212 Y1
檢測項:粒子碰撞噪聲檢測試驗 檢測樣品:電子元器件 標準:電子及電氣元件試驗方法 GJB 360B-2009
檢測項:粒子碰撞噪聲檢測試驗 檢測樣品:電子元器件 標準:半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997
機構(gòu)所在地:四川省成都市
檢測項:汽車和掛車后下部防護裝置 檢測樣品:汽車 標準:GB 11567.2-2001汽車和掛車后下部防護要求
機構(gòu)所在地:廣西壯族自治區(qū)柳州市
檢測項:粒子碰撞噪聲檢測(PIND) 檢測樣品:半導體集成 電路 (TTL) 標準:半導體集成電路TTL 電路測試方法的基本原理SJ/T10735-1996
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:碰撞 檢測樣品:電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件 標準:只測: 負載: ≤100kg 加速度: ≤50g 脈寬: (3~30)ms 頻次: ≤60次/min
檢測項:碰撞 檢測樣品:電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件 標準:只測: 負載: ≤100kg 加速度: ≤50g 脈寬: (3~30)ms 頻次: ≤60次/min
檢測項:碰撞 檢測樣品:電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件 標準:只測: 負載: ≤100kg 加速度: ≤50g 脈寬: (3~30)ms 頻次: ≤60次/min
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:點爆試驗 檢測樣品:汽車安全氣囊 標準:頭部碰撞保護氣囊模塊(安裝于:頂襯內(nèi)) TL 82533-2005
機構(gòu)所在地:上海市