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機構(gòu)所在地:廣東省深圳市
機構(gòu)所在地:天津市
機構(gòu)所在地:北京市
檢測項:可靠性 檢測樣品:設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn):GB 5080.7-86設(shè)備可靠性試驗 恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案
機構(gòu)所在地:北京市
機構(gòu)所在地:福建省福州市
機構(gòu)所在地:上海市
檢測項:絕緣電阻 檢測樣品:有失效率等級的無包封多層片式瓷介固定電容器 標(biāo)準(zhǔn):有失效率等級的無包封多層片式瓷介固定電容器通用規(guī)范 GJB 192B-2011
檢測項:破壞性物理分析 檢測樣品:有失效率等級的無包封多層片式瓷介固定電容器 標(biāo)準(zhǔn):有失效率等級的無包封多層片式瓷介固定電容器通用規(guī)范 GJB 192B-2011
檢測項:引出端強度 檢測樣品:有失效率等級的無包封多層片式瓷介固定電容器 標(biāo)準(zhǔn):有失效率等級的無包封多層片式瓷介固定電容器通用規(guī)范 GJB 192B-2011
機構(gòu)所在地:福建省泉州市
機構(gòu)所在地:浙江省杭州市
檢測項:外部檢查 檢測樣品:發(fā)光二極管 (LED) 標(biāo)準(zhǔn):微電路失效分析程序 MIL-STD-883J方法5003
機構(gòu)所在地:廣東省惠州市