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機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:福建省泉州市
機(jī)構(gòu)所在地:浙江省杭州市
檢測項(xiàng):外部檢查 檢測樣品:發(fā)光二極管 (LED) 標(biāo)準(zhǔn):微電路失效分析程序 MIL-STD-883J方法5003
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省惠州市
檢測項(xiàng):失效率等級 檢測樣品:小容量交流接觸器 標(biāo)準(zhǔn):GB/Z22200-2008小容量交流接觸器可靠性試驗(yàn)方法
檢測項(xiàng):失效率等級 檢測樣品:小型斷路器 標(biāo)準(zhǔn):GB/Z22203-2008家用和類似用途的過電流保護(hù)斷路器的可靠性試驗(yàn)方法
檢測項(xiàng):操作失效率等級 檢測樣品:塑料外殼式斷路器 標(biāo)準(zhǔn):GB/Z22074-2008塑料外殼式斷路器可靠性試驗(yàn)方法
機(jī)構(gòu)所在地:浙江省樂清市
檢測項(xiàng):承載能力(失效級) 檢測樣品:機(jī)械測振 標(biāo)準(zhǔn):潤滑劑承載能力測定法(CL-100齒輪機(jī)法)??SH/T?0306-1992
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
檢測項(xiàng):部分項(xiàng)目 檢測樣品:內(nèi)燃機(jī)活塞環(huán) 標(biāo)準(zhǔn):QC/T 293-1999 汽車半軸臺架試驗(yàn)方法
機(jī)構(gòu)所在地:四川省成都市
檢測項(xiàng):外部檢查 檢測樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):GJB3157-1998《半導(dǎo)體分立器件失效分析方法與程序》
檢測項(xiàng):外部檢查 檢測樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):GJB3233-1998《半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法》
檢測項(xiàng):內(nèi)部檢查 檢測樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):GJB3157-1998《半導(dǎo)體分立器件失效分析方法與程序》
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市