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檢測項:恒定加速度 檢測樣品:半導體分立器件 標準:《半導體分立器件試驗方法》GJB128A-1997
檢測項:恒定加速度 檢測樣品:微電子器件 標準:《微電子器件試驗方法和程序》GJB548B-2005
機構(gòu)所在地:貴州省貴陽市
檢測項:最大角加速度 檢測樣品:光電經(jīng)緯儀 標準:GJB3288-98 《軍用光學儀器試驗方法》
檢測項:碰撞試驗 檢測樣品: 標準:GB/T12085.3-2010《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法》
機構(gòu)所在地:吉林省長春市