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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十四研究所質(zhì)檢中心

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：電工電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第36部分：恒定加速度 GB/T4937.36-2006

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 集成電路 第11部分：半導(dǎo)體集成電路分規(guī)范 （不包括混合電路） GB/T12750-2006

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：混合集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：膜集成電路和混合膜集成電路 總規(guī)范 GB/T8976-1996

機(jī)構(gòu)所在地：重慶市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所元器件檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速試驗(yàn) 檢測(cè)樣品：電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法2006 恒定加速度 GJB128A-1997

檢測(cè)項(xiàng)：耐腐蝕試驗(yàn) 檢測(cè)樣品：電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法 方法2001.1恒定加速度GJB548B-2005

檢測(cè)項(xiàng)：沖擊 檢測(cè)樣品：電工電子產(chǎn)品、軍用設(shè)備、電子及電氣元件、 半導(dǎo)體分立器件、微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)GB/T2423.3-2006 試驗(yàn) Cab：恒定濕熱試驗(yàn)方法

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：（設(shè)備及大組件）恒定加速度 檢測(cè)樣品：電子元器件及設(shè)備 機(jī)械性能試驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 150.15-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 加速度試驗(yàn)

檢測(cè)項(xiàng)：（電子元 器件）恒定加速度 檢測(cè)樣品：電子元器件及設(shè)備 機(jī)械性能試驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)：4、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法

檢測(cè)項(xiàng)：（電子元 器件）恒定加速度 檢測(cè)樣品：電子元器件及設(shè)備 機(jī)械性能試驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)：5、GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法

機(jī)構(gòu)所在地：河北省石家莊市 更多相關(guān)信息>>

北京圣濤平試驗(yàn)工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司中心實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：電氣電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度》 GB/T 2423.15-2008

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：電氣電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：《環(huán)境試驗(yàn).第2-15部分:試驗(yàn).試驗(yàn)Ga和指南: 穩(wěn)態(tài)加速度》 IEC 60068-2-7:2010

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：電氣電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：《鐵道客車(chē)空調(diào)機(jī)組》TB/T1804-2009

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

貴州航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體分立器件 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》GJB128A-1997

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》GJB548B-2005

機(jī)構(gòu)所在地：貴州省貴陽(yáng)市 更多相關(guān)信息>>

上海精密計(jì)量測(cè)試研究所

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體分立器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體分立器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

西南技術(shù)物理研究所檢測(cè)校準(zhǔn)中心實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度試驗(yàn) 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電路試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B—2005

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度試驗(yàn) 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法GJB 128A－1997

檢測(cè)項(xiàng)：粒子碰撞噪聲檢測(cè)試驗(yàn) 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電路試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B—2005

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

華東光電集成器件研究所計(jì)量測(cè)試中心

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序　 GJB548B-2005方法2004.2

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序　 GJB548B-2005方法2004.2

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序　 GJB548A-1996方法2001A

機(jī)構(gòu)所在地：安徽省蚌埠市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所電子器件質(zhì)量檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品： 標(biāo)準(zhǔn)：

檢測(cè)項(xiàng)：恒定加速度 檢測(cè)樣品： 標(biāo)準(zhǔn)：

機(jī)構(gòu)所在地：遼寧省沈陽(yáng)市 更多相關(guān)信息>>

嘉善云瑞檢測(cè)服務(wù)有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：恒定濕熱試驗(yàn) 檢測(cè)樣品：電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)：只測(cè)加速度≤1000m/s2

檢測(cè)項(xiàng)：碰撞試驗(yàn) 檢測(cè)樣品：電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)：只測(cè)加速度≤1000m/s2

檢測(cè)項(xiàng)：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn) 檢測(cè)樣品：電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 標(biāo)準(zhǔn)：只測(cè)頻率3Hz-2000Hz, 推力≤20kN, 位移（P-P) :51mm

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