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機(jī)構(gòu)所在地:福建省泉州市
機(jī)構(gòu)所在地:浙江省杭州市
檢測(cè)項(xiàng):易分析度量(失效分析的能力) 檢測(cè)樣品: 標(biāo)準(zhǔn):
機(jī)構(gòu)所在地:河南省鄭州市
檢測(cè)項(xiàng):外部檢查 檢測(cè)樣品:發(fā)光二極管 (LED) 標(biāo)準(zhǔn):微電路失效分析程序 MIL-STD-883J方法5003
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省惠州市
檢測(cè)項(xiàng):失效率等級(jí) 檢測(cè)樣品:小容量交流接觸器 標(biāo)準(zhǔn):GB/Z22200-2008小容量交流接觸器可靠性試驗(yàn)方法
檢測(cè)項(xiàng):操作失效率等級(jí) 檢測(cè)樣品:塑料外殼式斷路器 標(biāo)準(zhǔn):GB/Z22074-2008塑料外殼式斷路器可靠性試驗(yàn)方法
機(jī)構(gòu)所在地:浙江省樂(lè)清市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:四川省成都市
檢測(cè)項(xiàng):外部檢查 檢測(cè)樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):GJB3157-1998《半導(dǎo)體分立器件失效分析方法與程序》
檢測(cè)項(xiàng):外部檢查 檢測(cè)樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):GJB3233-1998《半導(dǎo)體集成電路失效分析程序和方法》
檢測(cè)項(xiàng):內(nèi)部檢查 檢測(cè)樣品:電子元器件 標(biāo)準(zhǔn):GJB3157-1998《半導(dǎo)體分立器件失效分析方法與程序》
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
機(jī)構(gòu)所在地:河北省涿州市