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復(fù)合材料中樹脂羥值的檢測

檢測項：樹脂羥值 檢測樣品：復(fù)合材料 標準：GB/T7193-2009《不飽和聚酯樹脂試驗方法》

檢測機構(gòu)：玻璃鋼制品質(zhì)量檢驗中心 更多相關(guān)信息>>

食品接觸材料及制品中過氧化值的檢測

檢測項：過氧化值 檢測樣品：食品接觸材料及制品 標準：歐洲藥典 European Pharmacopoeia 8.0,p.156,2.5.5

檢測機構(gòu)：國家食品質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心 更多相關(guān)信息>>

按摩基礎(chǔ)油、按摩油中過氧化值的檢測

檢測項：過氧化值 檢測樣品：按摩基礎(chǔ)油、按摩油 標準：按摩基礎(chǔ)油、按摩油 QB/T 4079-2010 附錄B

檢測機構(gòu)：國家化妝品檢測中心 更多相關(guān)信息>>

中達電子（江蘇）有限公司分析實驗室

檢測項：VGS(off): 柵-源截止電壓/VGS(th):閾值電壓 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品 標準：電子電氣產(chǎn)品中限用的六種物質(zhì)（鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚）的測定IEC 62321 -2008

檢測項：VFM: 正向峰值電壓 檢測樣品：雙極型晶體管 標準：半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管 IEC 60747-7(第三版 2010-12)

檢測項：V(BR)DS*:崩潰電壓 檢測樣品：場效應(yīng)晶體管 標準：半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第8部分:場效應(yīng)晶體管IEC 60747-8(第三版 2010-12)

機構(gòu)所在地： 更多相關(guān)信息>>

武漢中原電子集團有限公司計量檢測中心

檢測項：柵-源截止電壓VGS(off) 檢測樣品：場效應(yīng)管 標準：半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分：場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994

檢測項：柵-源閾值電壓VGS(TO) 檢測樣品：場效應(yīng)管 標準：半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分：場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994

機構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>

貴州航天計量測試技術(shù)研究所

檢測項：柵-源閾值電壓VGS（th） 檢測樣品：晶體振蕩器 標準：《晶體振蕩器總規(guī)范》GJB 1648-1993

檢測項：截止態(tài)源極漏電流IS 檢測樣品：V/F、F/V轉(zhuǎn)換器 標準：《半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器》 GB/T 14114-1993

檢測項：漏源極截止電流IDSS 檢測樣品：晶體振蕩器 標準：《晶體振蕩器總規(guī)范》GJB 1648-1993

機構(gòu)所在地：貴州省貴陽市 更多相關(guān)信息>>

上海精密計量測試研究所

檢測項：柵-源閾值電壓VGS(th) 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路時基電路 標準：GB/T14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理

檢測項：柵-源閾值電壓VGS(th) 檢測樣品：場效應(yīng)晶體管 標準：GB/T4586-1994 半導(dǎo)體器件分立器件第8部分：場效應(yīng)晶體管 GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法

檢測項：校定值 檢測樣品：溫度繼電器 標準：GJB1517-1992 恒溫繼電器總規(guī)范

機構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

北京賽迪君信電子產(chǎn)品檢測實驗室有限公司

檢測項：柵源閾值電壓VGS(th) 檢測樣品：場效應(yīng)晶體管 標準：GB/T4586-1994半導(dǎo)體器件 第8部分：場效應(yīng)晶體管

檢測項：漏源通態(tài)電阻RDSon 檢測樣品：光耦合器 標準：1.GB/T15651.3-2003半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分：光電子器件測試方法 2.GB12565-1990半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范

檢測項：漏源通態(tài)電壓VDSon 檢測樣品：光耦合器 標準：1.GB/T15651.3-2003半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分：光電子器件測試方法 2.GB12565-1990半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

湖北航天技術(shù)研究院計量測試技術(shù)研究所

檢測項：柵-源閾值電壓VGS（th） 檢測樣品：場效應(yīng)晶體管 標準：半導(dǎo)體器件分立器件第8部分：場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997

檢測項：恒定加速度 檢測樣品：電子元器件試驗 標準：微電子器件試驗方法和程序 GJB 548B-2005 方法2001.1條件A、B、C、D、E

檢測項：恒定加速度 檢測樣品：晶體管 標準：半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997

機構(gòu)所在地：湖北省孝感市 更多相關(guān)信息>>

湖南航天管理局計量檢測中心

檢測項：柵-源閾值電壓VGS(th) 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路運算放大器 標準：SJ/T10738-1996 半導(dǎo)體集成電路運算（電壓） 放大器測試方法的基本原理

檢測項：柵-源閾值電壓VGS(th) 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路運算放大器 標準：SJ/T10738-1996 半導(dǎo)體集成電路運算（電壓） 放大器測試方法的基本原理

檢測項：外觀和尺寸檢查 檢測樣品：固定電容器 標準：GB/T2693-2001 電子設(shè)備用固定電容器 第一部分：總規(guī)范

機構(gòu)所在地：湖南省長沙市 更多相關(guān)信息>>