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檢測(cè)項(xiàng):外部目檢 檢測(cè)樣品:集成電路 標(biāo)準(zhǔn):GJB548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省廣州市
檢測(cè)項(xiàng):外部目檢 檢測(cè)樣品:微波組件 標(biāo)準(zhǔn):《微波元器件性能測(cè)試方法》GJB2650-1996
機(jī)構(gòu)所在地:江蘇省揚(yáng)州市
機(jī)構(gòu)所在地:貴州省貴陽(yáng)市
機(jī)構(gòu)所在地:河北省石家莊市
機(jī)構(gòu)所在地:山東省威海市
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
檢測(cè)項(xiàng):全部參數(shù)* 檢測(cè)樣品:密目式安全立網(wǎng) 標(biāo)準(zhǔn):《安全網(wǎng)》 GB 5725-2009
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測(cè)項(xiàng):外部目檢和標(biāo)志檢查 檢測(cè)樣品:混合集成電路 標(biāo)準(zhǔn):膜集成電路和混合膜集成電路 總規(guī)范 GB/T8976-1996
機(jī)構(gòu)所在地:重慶市