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檢測項:漏-源通態(tài)電阻 檢測樣品:場效應晶體管 標準:GB/T4586-1994 半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管
檢測項:漏-源通態(tài)電阻 檢測樣品:半導體集成電路TTL電路 標準:GB/T4586-1994 半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管
檢測項:漏-源通態(tài)電壓 檢測樣品:半導體集成電路TTL電路 標準:GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法 方法3407
機構所在地:湖北省宜昌市
檢測項:漏源通態(tài)電壓 檢測樣品:場效應管 標準:《半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管》GB/T4586-1994
檢測項:柵源閾值電壓 檢測樣品:場效應管 標準:《半導體器件 分立器件第8部分:場效應晶體管》GB/T4586-1994
機構所在地:江蘇省揚州市