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深圳市精科眼鏡檢測檢驗(yàn)服務(wù)有限公司

檢測項(xiàng)：全部項(xiàng)目 檢測樣品：老視成鏡 標(biāo)準(zhǔn)：眼科光學(xué)—單光近用老視鏡技術(shù)規(guī)范 ISO 16034：2002 AS/NZS ISO 16034:2011

檢測項(xiàng)：全部項(xiàng)目 檢測樣品：老視成鏡 標(biāo)準(zhǔn)：眼科光學(xué)-眼鏡架-通用要求和試驗(yàn)方法 ISO 12870:2012

檢測項(xiàng)：全部項(xiàng)目 檢測樣品：老視成鏡 標(biāo)準(zhǔn)：眼鏡架-通用要求和試驗(yàn)方法 JIS B 7285：2008

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

西安東風(fēng)儀表廠可靠性試驗(yàn)檢測中心

檢測項(xiàng)：老煉試驗(yàn) 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測項(xiàng)：老煉試驗(yàn) 檢測樣品：固定電容器 標(biāo)準(zhǔn)：電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009

檢測項(xiàng)：老煉試驗(yàn) 檢測樣品：半導(dǎo)體 晶體三極管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法GJB128A-97

機(jī)構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>

海南省計量測試所

檢測項(xiàng)：老視成鏡兩鏡片頂焦度互差 檢測樣品：太陽鏡 標(biāo)準(zhǔn)：GB10810.1-2005 眼鏡鏡片面 第1部分：單光和多焦點(diǎn)鏡片

機(jī)構(gòu)所在地：海南省?？谑?更多相關(guān)信息>>

青海省計量檢定測試所

檢測項(xiàng)：頂焦度 檢測樣品：老視鏡 標(biāo)準(zhǔn)：配裝眼鏡第1部分:單光和多焦點(diǎn)GB13511.1-2011

機(jī)構(gòu)所在地：青海省西寧市 更多相關(guān)信息>>

中國北方車輛研究所測試中心

檢測項(xiàng)：電壓老煉 檢測樣品：電容器 標(biāo)準(zhǔn)：GJB3516-99鋁電解電容器總規(guī)范

檢測項(xiàng)：電壓老煉 檢測樣品：電容器 標(biāo)準(zhǔn)：GJB733A-96有可靠性指標(biāo)的非固體電解質(zhì)鉭固定電容器總規(guī)范

檢測項(xiàng)：老煉 檢測樣品：三極管 標(biāo)準(zhǔn)：GJB128A－97半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法方法1039

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

武漢中原電子集團(tuán)有限公司計量檢測中心

檢測項(xiàng)：老煉（二極管、整流管和穩(wěn)壓管） 檢測樣品：微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005

檢測項(xiàng)：老煉（晶體管） 檢測樣品：微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>

中國船舶重工集團(tuán)公司第723研究所電工電子設(shè)備環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測中心

檢測項(xiàng)：老煉試驗(yàn) 檢測樣品：微波組件 標(biāo)準(zhǔn)：《微波元器件性能測試方法》GJB2650-1996

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省揚(yáng)州市 更多相關(guān)信息>>

廈門市產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)院

檢測項(xiàng)：老視鏡頂焦度互差 檢測樣品：配裝眼鏡(漸變焦) 標(biāo)準(zhǔn)：配裝眼鏡 第2部分：漸變焦GB 13511.2-2011

機(jī)構(gòu)所在地：福建省廈門市 更多相關(guān)信息>>

中國航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

檢測項(xiàng)：老煉 檢測樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB 128A-1997《 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》

檢測項(xiàng)：老煉 檢測樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：GJB548B-2005《微電子器件試驗(yàn)方法和程》序

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第二十七研究所計量檢測中心

檢測項(xiàng)：高溫電老煉 檢測樣品：電容器 標(biāo)準(zhǔn)：電子及電氣元件試驗(yàn)方法GJB360B-2009

檢測項(xiàng)：高溫電老煉 檢測樣品：微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序GJB548B-2005

機(jī)構(gòu)所在地：河南省鄭州市 更多相關(guān)信息>>