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檢測項(xiàng):外部目檢 檢測樣品:集成電路 標(biāo)準(zhǔn):GJB548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測項(xiàng):全部項(xiàng)目 檢測樣品:手術(shù)顯微鏡落地支架 標(biāo)準(zhǔn):目樂手術(shù)顯微鏡落地支架 YZB/MW 132-2006
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
機(jī)構(gòu)所在地:廣東省廣州市
檢測項(xiàng):外部目檢 檢測樣品:微波組件 標(biāo)準(zhǔn):《微波元器件性能測試方法》GJB2650-1996
機(jī)構(gòu)所在地:江蘇省揚(yáng)州市
檢測項(xiàng):目檢 檢測樣品:聚光型光伏模塊和組件 標(biāo)準(zhǔn):IEC 62108 1.0版 2007-12 聚光型光伏模塊和組件– 設(shè)計鑒定和定型
檢測項(xiàng):目檢 檢測樣品:聚光型光伏模塊和組件 標(biāo)準(zhǔn):IEC 62108 1.0版 2007-12 聚光型光伏模塊和組件– 設(shè)計鑒定和定型
機(jī)構(gòu)所在地:河北省石家莊市
檢測項(xiàng):密目式安全立網(wǎng) 檢測樣品:安全網(wǎng) 標(biāo)準(zhǔn):繩索 有關(guān)物理和機(jī)械性能的測定GB/T 8834-2006
檢測項(xiàng):密目式安全立網(wǎng) 檢測樣品:安全網(wǎng) 標(biāo)準(zhǔn):繩索 有關(guān)物理和機(jī)械性能的測定GB/T 8834-2006
機(jī)構(gòu)所在地:山東省威海市
檢測項(xiàng):封帽前目檢,微波分立和多芯片晶體管 檢測樣品:半導(dǎo)體分立器件 標(biāo)準(zhǔn):GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法
機(jī)構(gòu)所在地:上海市
檢測項(xiàng):全部參數(shù)* 檢測樣品:密目式安全立網(wǎng) 標(biāo)準(zhǔn):《安全網(wǎng)》 GB 5725-2009
機(jī)構(gòu)所在地:北京市
檢測項(xiàng):外部目檢和標(biāo)志檢查 檢測樣品:混合集成電路 標(biāo)準(zhǔn):膜集成電路和混合膜集成電路 總規(guī)范 GB/T8976-1996
機(jī)構(gòu)所在地:重慶市