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檢測項:碰撞試驗 檢測樣品:電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn):軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法沖擊試驗GJB150.18-1986
檢測項:粒子碰撞噪聲檢測(PIND) 檢測樣品:集成電路 篩選 標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗方法和程序 GJB548B-2005
機構(gòu)所在地:甘肅省蘭州市
檢測項:碰撞 檢測樣品:汽車電子零部件 標(biāo)準(zhǔn):汽車中的電氣和電子組件 通用試驗條件 VW80101:2009-03 (4.2)
機構(gòu)所在地:
機構(gòu)所在地:江蘇省常州市
機構(gòu)所在地:上海市
機構(gòu)所在地:湖南省長沙市
機構(gòu)所在地:北京市
機構(gòu)所在地:北京市
機構(gòu)所在地:陜西省西安市
檢測項:碰撞 檢測樣品:固定電阻器 標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞 GB/T 2423.6-1995
機構(gòu)所在地:湖北省武漢市