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收縮率(Shrinkageration) 定義為收縮量與收縮前尺寸之比的百分?jǐn)?shù)，收縮量則為收縮前后尺寸之差。 收縮率 測(cè)試儀器：薄膜熱收縮率試驗(yàn)儀 查看詳情>>
收縮率(Shrinkageration)
定義為收縮量與收縮前尺寸之比的百分?jǐn)?shù)，收縮量則為收縮前后尺寸之差。
收縮率測(cè)試儀器：薄膜熱收縮率試驗(yàn)儀
收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日
機(jī)構(gòu)所在地：貴州省貴陽(yáng)市
機(jī)構(gòu)所在地：北京市
機(jī)構(gòu)所在地：上海市
機(jī)構(gòu)所在地：北京市
機(jī)構(gòu)所在地：重慶市
檢測(cè)項(xiàng)：鄰道抑制比 檢測(cè)樣品：cdma2000 移動(dòng)通信直放機(jī) 標(biāo)準(zhǔn)：《無(wú)線電規(guī)則》ITU-R
檢測(cè)項(xiàng)：諧波抑制 檢測(cè)樣品：GSM數(shù)字蜂窩基站 標(biāo)準(zhǔn)：《無(wú)線電規(guī)則》ITU-R
機(jī)構(gòu)所在地：陜西省西安市
檢測(cè)項(xiàng)：鄰道抑制比 檢測(cè)樣品：光纜分纖箱 標(biāo)準(zhǔn)：YD/T2150-2010 光纜分纖箱
機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市
檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比 檢測(cè)樣品：電子元器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電路試驗(yàn)方法和程序GJB 548B-2005
機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市
機(jī)構(gòu)所在地：遼寧省沈陽(yáng)市
檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比 檢測(cè)樣品：CMOS集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000
檢測(cè)項(xiàng)：電源電壓抑制比 檢測(cè)樣品：RF器件 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 集成電路 第3部分：模擬集成電路 GB/T 17940-2000
機(jī)構(gòu)所在地：上海市
