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發(fā)光二極管芯片中總光通量檢測(cè)

  • 樣品名稱：發(fā)光二極管芯片

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：總光通量

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序2009以及2016； GJ/B548B－2005 金相顯微鏡分析方法通則 JY/T 012-1996

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >

  • 標(biāo)簽： 總光通量 發(fā)光二極管芯片

發(fā)光二極管芯片中總光通量更多檢測(cè)機(jī)構(gòu)

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