您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 中國(guó)工程物理研究院強(qiáng)光光學(xué)測(cè)試中心 > 光學(xué)元件及材料中光學(xué)均勻性檢測(cè)
中國(guó)工程物理研究院強(qiáng)光光學(xué)測(cè)試中心
四川省綿陽(yáng)市
樣品名稱:光學(xué)元件及材料
檢測(cè)項(xiàng)目:光學(xué)均勻性
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 7962.2-2010 無色光學(xué)玻璃測(cè)試方法 第2部分:光學(xué)均勻性 斐索平面干涉法
所屬行業(yè)分類:計(jì)量與測(cè)量
標(biāo)簽: 光學(xué)均勻性 光學(xué)元件及材料