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晶體硅中外延層厚度檢測

  • 樣品名稱：晶體硅

  • 檢測項(xiàng)目：外延層厚度

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：《 重?fù)诫s襯底上輕摻雜硅外延層厚度的紅外反射測量方法》 GB/T 14847-2010

  • 所屬行業(yè)分類：石油化工品

  • 標(biāo)簽： 外延層厚度 晶體硅

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