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卡特彼勒技術(shù)研發(fā)(中國(guó))有限公司無錫分公司材料實(shí)驗(yàn)室
江蘇省無錫市
樣品名稱:
檢測(cè)項(xiàng)目:平均晶粒度
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):ASTM E112-10 平均晶粒度的測(cè)定方法
所屬行業(yè)分類:材料分析
標(biāo)簽: 平均晶粒度