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電子元器件(氣候試驗)中低氣壓(高度)試驗檢測

  • 樣品名稱：電子元器件(氣候試驗)

  • 檢測項目：低氣壓(高度)試驗

  • 認可資質：CNAS CMA

  • 檢測標準：1.GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序，方法1001 2.GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法，方法105 3.GJB150.2A-2009軍用設備環(huán)境環(huán)境試驗方法，第2部分 4.GJB128A-1997半導體分立器件試驗方法

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗 >

  • 標簽： 低氣壓(高度)試驗 電子元器件(氣候試驗)

電子元器件(氣候試驗)中低氣壓(高度)試驗更多檢測機構

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