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半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器中紋波抑制比 (SRIP)檢測(cè)

• 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器

• 檢測(cè)項(xiàng)目：紋波抑制比 (SRIP)

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理 GB/T4377-1996

• 所屬行業(yè)分類：

• 標(biāo)簽： 紋波抑制比 (SRIP) 半導(dǎo)體集成電路電壓調(diào)整器