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CMOS集成電路中D/A失調(diào)誤差檢測(cè)

  • 樣品名稱：CMOS集成電路

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：D/A失調(diào)誤差

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理　 SJ20961-2006

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 電子元件檢測(cè) >

  • 標(biāo)簽： D/A失調(diào)誤差 CMOS集成電路

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