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CMOS集成電路中開環(huán)性能（增益，帶寬，失真，動態(tài)范圍）檢測

樣品名稱：CMOS集成電路
檢測項目：開環(huán)性能（增益，帶寬，失真，動態(tài)范圍）
認可資質(zhì)：CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn)：微電路測試方法 MIL-STD-883H:2010 方法4004.2
所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 電子元件檢測 >
標(biāo)簽：開環(huán)性能（增益，帶寬，失真，動態(tài)范圍） CMOS集成電路

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