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光耦合器中C、E間擊穿 電壓檢測

  • 樣品名稱：光耦合器

  • 檢測項(xiàng)目：C、E間擊穿 電壓

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體光耦合器(二極管)反向電流的測試方法SJ2215.2-1982

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣

  • 標(biāo)簽： C、E間擊穿 電壓 光耦合器

光耦合器中C、E間擊穿 電壓更多檢測機(jī)構(gòu)