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樣品名稱:
檢測項目:B,P,Al,Sb,Ga,As
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):GB/T 24581-2009低溫傅立葉變換紅外光譜法測量硅單晶中Ⅲ、Ⅴ族雜質(zhì)含量的標(biāo)準(zhǔn)方法
所屬行業(yè)分類:材料分析 > 材料與產(chǎn)品的化學(xué)檢測 >
標(biāo)簽: B,P,Al,Sb,Ga,As