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中國(guó)科學(xué)院長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所質(zhì)檢中心
吉林省長(zhǎng)春市
樣品名稱(chēng):軍用裝備、光學(xué)儀器
檢測(cè)項(xiàng)目:低溫試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GJB150.4A-2009《軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法》第4部分低溫試驗(yàn)、GB/T12085.2-2010《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法》
所屬行業(yè)分類(lèi):電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽: 低溫試驗(yàn) 軍用裝備、光學(xué)儀器