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光耦合器中集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO檢測

  • 樣品名稱：光耦合器

  • 檢測項目：集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：1、GB 12565－1990 半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范 2、GB/T 15651.3-2003 半導(dǎo)體分立器件和集成電路第5-3部分：光電子器件測試方法

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標(biāo)簽： 集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(BR)CEO 光耦合器

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