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電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)中芯片剪切強(qiáng)度檢測(cè)

• 樣品名稱：電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)

• 檢測(cè)項(xiàng)目：芯片剪切強(qiáng)度

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波組件通用規(guī)范 5、SJ 20527

• 所屬行業(yè)分類：

• 標(biāo)簽： 芯片剪切強(qiáng)度 電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)