您當(dāng)前的位置:首頁 > 中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測中心 > 電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)中可焊性檢測
樣品名稱:電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)
檢測項(xiàng)目:可焊性
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波組件通用規(guī)范 5、SJ 20527
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 可焊性 電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗(yàn)