您當(dāng)前的位置:首頁 > 中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測中心 > 電子元器件及設(shè)備 壽命及可靠性試驗(yàn)中穩(wěn)態(tài)壽命檢測
樣品名稱:電子元器件及設(shè)備 壽命及可靠性試驗(yàn)
檢測項(xiàng)目:穩(wěn)態(tài)壽命
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 2、GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 3、GJB 899A-2009 可靠性鑒定和驗(yàn)收試驗(yàn) 4、GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 穩(wěn)態(tài)壽命 電子元器件及設(shè)備 壽命及可靠性試驗(yàn)