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軍用電子元器件破壞性物理分析中外部目檢檢測(cè)

  • 樣品名稱：軍用電子元器件破壞性物理分析

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：外部目檢

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各種質(zhì)量等級(jí)軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 4、GJB 360A-1996 電子及

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標(biāo)簽： 外部目檢 軍用電子元器件破壞性物理分析

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