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樣品名稱:電子元器件及設(shè)備 機械性能試驗
檢測項目:老煉試驗
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 4、GJB 360A-1996 電子及電氣元件試驗方法 5、GJB 3
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 環(huán)境試驗 >
標(biāo)簽: 老煉試驗 電子元器件及設(shè)備 機械性能試驗