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半電波暗室（SAC）和全電波暗室(FAC）中歸一化場(chǎng)地衰減（NSA）檢測(cè)

• 樣品名稱：半電波暗室（SAC）和全電波暗室(FAC）

• 檢測(cè)項(xiàng)目：歸一化場(chǎng)地衰減（NSA）

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6113.105-2008,CISPR 16-1-5:2012,ANSI C63.4-2009 無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備和測(cè)量方法規(guī)范 第1-5部分： 無(wú)線電騷擾和抗擾度測(cè)量設(shè)備

• 所屬行業(yè)分類：電子電氣

• 標(biāo)簽： 歸一化場(chǎng)地衰減（NSA） 半電波暗室（SAC）和全電波暗室(FAC）