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微波天線暗室中場(chǎng)均勻性 (FU)--1GHz以上獨(dú)立窗口法檢測(cè)

  • 樣品名稱:微波天線暗室

  • 檢測(cè)項(xiàng)目:場(chǎng)均勻性 (FU)--1GHz以上獨(dú)立窗口法

  • 認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB 9254-2008,CISPR 22:2008信息技術(shù)設(shè)備的無(wú)線電騷擾限值和測(cè)量方法.GB 4824-2004,CISPR 11:2010 工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療(ISM)射頻設(shè)備電磁騷擾特性限值和測(cè)量方法.

  • 所屬行業(yè)分類:電子電氣

  • 標(biāo)簽: 場(chǎng)均勻性 (FU)--1GHz以上獨(dú)立窗口法 微波天線暗室

微波天線暗室中場(chǎng)均勻性 (FU)--1GHz以上獨(dú)立窗口法更多檢測(cè)機(jī)構(gòu)