您當(dāng)前的位置:首頁 > 上海精密計量測試研究所 > 半導(dǎo)體集成電路時基電路中漏-源擊穿電壓V(BR)DSS檢測
樣品名稱:半導(dǎo)體集成電路時基電路
檢測項目:漏-源擊穿電壓V(BR)DSS
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):GB/T14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時基電路測試方法的基本原理
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 電子元件檢測 >
標(biāo)簽: 漏-源擊穿電壓V(BR)DSS 半導(dǎo)體集成電路時基電路