您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 北京東方計(jì)量測(cè)試研究所 > 儀器儀表、計(jì)量器具、電工電子產(chǎn)品、電子測(cè)量?jī)x器、軍用裝備設(shè)備(環(huán)境試驗(yàn))中低溫試驗(yàn)檢測(cè)
樣品名稱:儀器儀表、計(jì)量器具、電工電子產(chǎn)品、電子測(cè)量?jī)x器、軍用裝備設(shè)備(環(huán)境試驗(yàn))
檢測(cè)項(xiàng)目:低溫試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法 GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽: 低溫試驗(yàn) 儀器儀表、計(jì)量器具、電工電子產(chǎn)品、電子測(cè)量?jī)x器、軍用裝備設(shè)備(環(huán)境試驗(yàn))