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電子元器件試驗中外部目檢檢測

  • 樣品名稱：電子元器件試驗

  • 檢測項目：外部目檢

  • 認可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標準：微電子器件試驗方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目檢；半導(dǎo)體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997方法2071外觀及機械檢查

  • 所屬行業(yè)分類：電子電氣 > 環(huán)境試驗 >

  • 標簽： 外部目檢 電子元器件試驗

電子元器件試驗中外部目檢更多檢測機構(gòu)