您當(dāng)前的位置:首頁 > 湖北航天技術(shù)研究院計(jì)量測試技術(shù)研究所 > 電子元器件試驗(yàn)中溫度循環(huán)檢測
樣品名稱:電子元器件試驗(yàn)
檢測項(xiàng)目:溫度循環(huán)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):微電子器件試驗(yàn)方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1溫度循環(huán) 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997 方法1051溫度循環(huán)(空氣-空氣) 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 GJB360B-2009 方法107溫度沖擊試驗(yàn);
所屬行業(yè)分類:電子電氣 > 環(huán)境試驗(yàn) >
標(biāo)簽: 溫度循環(huán) 電子元器件試驗(yàn)