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半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器中截止態(tài)漏極漏電流 ID（Off）檢測

• 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器

• 檢測項目：截止態(tài)漏極漏電流 ID（Off）

• 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

• 檢測標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》

• 所屬行業(yè)分類：

• 標(biāo)簽： 截止態(tài)漏極漏電流 ID（Off） 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器