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半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器中功能測試棋盤格檢測

  • 樣品名稱：半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器

  • 檢測項目：功能測試棋盤格

  • 認可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標準：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路 第 2 部分 數(shù)字集成電路》

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標簽： 功能測試棋盤格 半導(dǎo)體集成電路MOS隨機存儲器

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