您當(dāng)前的位置:首頁 > 電信科學(xué)技術(shù)第一研究所泰峰通信實(shí)驗(yàn)室 > 環(huán)境試驗(yàn)中試驗(yàn)Ab:非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)檢測
樣品名稱:環(huán)境試驗(yàn)
檢測項(xiàng)目:試驗(yàn)Ab:非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測標(biāo)準(zhǔn):電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫 GB/T 2423.1-2008
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: 試驗(yàn)Ab:非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn) 環(huán)境試驗(yàn)