您當(dāng)前的位置:首頁 > 上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院(華東國家計(jì)量測(cè)試中心/中國上海測(cè)試中心) > 接觸式IC卡中*部分項(xiàng)目檢測(cè)
上海市計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院(華東國家計(jì)量測(cè)試中心/中國上海測(cè)試中心)
上海市
樣品名稱:接觸式IC卡
檢測(cè)項(xiàng)目:*部分項(xiàng)目
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):識(shí)別卡 帶觸點(diǎn)的集成電路卡第3部分: 電信號(hào)和傳輸協(xié)議 GB/T16649.3-2006 ISO/IEC 7816-3-2006
所屬行業(yè)分類:電子電氣
標(biāo)簽: *部分項(xiàng)目 接觸式IC卡