您當(dāng)前的位置:首頁(yè) > 中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 > 數(shù)字集成電路中輸入低電平電壓VIL檢測(cè)
中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室
北京市
樣品名稱:數(shù)字集成電路
檢測(cè)項(xiàng)目:輸入低電平電壓VIL
認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):SJ/T10741-2000 《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》
所屬行業(yè)分類:
標(biāo)簽: 輸入低電平電壓VIL 數(shù)字集成電路