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集成電路(IC)卡中最低反射率(Rmin)測(cè)量誤差檢測(cè)

  • 樣品名稱：集成電路(IC)卡

  • 檢測(cè)項(xiàng)目：最低反射率(Rmin)測(cè)量誤差

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1. GB/T 17554.1-2006識(shí)別卡 測(cè)試方法 第1部分：一般特性測(cè)試 2.ISO/IEC10373-1:2006識(shí)別卡-測(cè)試方法-第1部分:一般特性測(cè)試

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標(biāo)簽： 最低反射率(Rmin)測(cè)量誤差 集成電路(IC)卡

集成電路(IC)卡中最低反射率(Rmin)測(cè)量誤差更多檢測(cè)機(jī)構(gòu)

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