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集成電路(IC)卡中缺陷度(Defects)測量誤差檢測

  • 樣品名稱：集成電路(IC)卡

  • 檢測項目：缺陷度(Defects)測量誤差

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：1. GB/T 17554.1-2006識別卡 測試方法 第1部分：一般特性測試 2.ISO/IEC10373-1:2006識別卡-測試方法-第1部分:一般特性測試

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標(biāo)簽： 缺陷度(Defects)測量誤差 集成電路(IC)卡

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