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集成電路(IC)卡中非接觸IC卡近耦合卡尺寸與位置檢測

  • 樣品名稱：集成電路(IC)卡

  • 檢測項(xiàng)目：非接觸IC卡近耦合卡尺寸與位置

  • 認(rèn)可資質(zhì)：CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn)：ISO/IEC 10536-2:1995 識別卡-非接觸集成電路卡-近耦合卡 第2部分：耦合區(qū)域的尺寸和位置

  • 所屬行業(yè)分類：

  • 標(biāo)簽： 非接觸IC卡近耦合卡尺寸與位置 集成電路(IC)卡

集成電路(IC)卡中非接觸IC卡近耦合卡尺寸與位置更多檢測機(jī)構(gòu)

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