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集成電路(IC)卡中非接觸IC卡鄰近卡保留區(qū)域和保留值的處理檢測

  • 樣品名稱:集成電路(IC)卡

  • 檢測項目:非接觸IC卡鄰近卡保留區(qū)域和保留值的處理

  • 認(rèn)可資質(zhì):CNAS CMA

  • 檢測標(biāo)準(zhǔn):ISO/IEC 14443-3:2001/ Amd.3:2006 識別卡-非接觸集成電路卡-鄰近卡-第3部分:初始化和防碰撞 補(bǔ)充版3:保留區(qū)和保留值的處理

  • 所屬行業(yè)分類:

  • 標(biāo)簽: 非接觸IC卡鄰近卡保留區(qū)域和保留值的處理 集成電路(IC)卡

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